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局部放電測(cè)量是一種檢測(cè)靈敏度高于耐壓或高阻試驗(yàn)的無損檢測(cè)方法，可用于發(fā)現(xiàn)固體絕緣材料的絕緣缺陷和早期故障。適用于IEC 60270、IEC 60664-1、IEC 61730-2標(biāo)準(zhǔn)。

設(shè)備構(gòu)成：該設(shè)備由局放檢測(cè)儀、屏蔽箱、電腦集成一體，可配置高溫屏蔽箱測(cè)試高溫下的PDIV和PDEV值；局放檢測(cè)儀內(nèi)部由3000V高壓電源、耦合電容、檢測(cè)器和校準(zhǔn)器組成，連接電腦即可測(cè)試。

輸出電壓：AC 0～3000V     

1）電壓上電壓上升速率：10V/S、25V/S、50V/S、100V/S（軟件控制）

2）PD分辨率：0.01pC(AC 3000V時(shí)，設(shè)備局放量小于1PC)

3）波形：正弦波（不取決于輸入電源的波形）

4）最大負(fù)載電流：10mA

5）最大電容負(fù)載：5000pF

6）電壓精度：讀數(shù)的±（1%+10digit）

7）電壓設(shè)定范圍：0～3000V，1V in 1V steps

8）尺寸重量：局部放電試驗(yàn)儀L520×W670×H580 mm 約60Kg